29,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 6-10 Tagen
payback
15 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

Ksi¿¿ka ta stanowi progresywny i operacyjny przegl¿d elektrokinetyki, od no¿ników ¿adunku (elektronów, dziur, jonów, plazmy) po makroskopowe prawa rz¿dz¿ce rzeczywistymi obwodami. Po dokonaniu przegl¿du podstawowych wielko¿ci (pr¿d, g¿sto¿¿ pr¿du, pole elektryczne) i bilansów energetycznych (efekt Joule'a, moc, sprawno¿¿), tekst ustanawia zwi¿zek mi¿dzy mikroskopijnymi i makroskopowymi formami prawa Ohma, jednocze¿nie wyjäniaj¿c rol¿ rezystywno¿ci, przewodnictwa i mobilno¿ci. Prawa Kirchhoffa s¿ traktowane systematycznie (w¿z¿y, siatki, kierunek ruchu), a nast¿pnie stosowane do analizy…mehr

Produktbeschreibung
Ksi¿¿ka ta stanowi progresywny i operacyjny przegl¿d elektrokinetyki, od no¿ników ¿adunku (elektronów, dziur, jonów, plazmy) po makroskopowe prawa rz¿dz¿ce rzeczywistymi obwodami. Po dokonaniu przegl¿du podstawowych wielko¿ci (pr¿d, g¿sto¿¿ pr¿du, pole elektryczne) i bilansów energetycznych (efekt Joule'a, moc, sprawno¿¿), tekst ustanawia zwi¿zek mi¿dzy mikroskopijnymi i makroskopowymi formami prawa Ohma, jednocze¿nie wyjäniaj¿c rol¿ rezystywno¿ci, przewodnictwa i mobilno¿ci. Prawa Kirchhoffa s¿ traktowane systematycznie (w¿z¿y, siatki, kierunek ruchu), a nast¿pnie stosowane do analizy szeregowych/równoleg¿ych grup rezystorów, modeli generatorów/odbiorników (emf, rezystancja wewn¿trzna) i stanów nieustalonych RC (stäa czasowa, ¿adowanie/roz¿adowanie, kryteria 63%/99%). Kädy rozdziä ko¿czy si¿ w pe¿ni poprawionymi ¿wiczeniami, maj¿cymi na celu rozwi¿zywanie problemów i weryfikacj¿ rz¿dów wielko¿ci, aby zapewni¿ studentom i in¿ynierom narz¿dzia, które mo¿na natychmiast wykorzystä w laboratorium, w symulacji i na egzaminach.
Autorenporträt
Mohammed RASHEED, profesor i naukowiec w dziedzinie nauk stosowanych (Uniwersytet Technologiczny w Bagdadzie; Uniwersytet w Angers), zajmuje si¿ nanotechnologi¿, cienkimi warstwami, optyk¿, materiäami, ceramik¿, polimerami, laserami, modelowaniem i przetwarzaniem obrazu. Autor >220 artyku¿ów, >70 wspó¿prac w >10 krajach; recenzent >200 czasopism.