Andere Kunden interessierten sich auch für
![Optymalizacja mocy i obszaru w NoC przy u¿yciu partycjonowania dostosowanego do potrzeb]( "Optymalizacja mocy i obszaru w NoC przy u¿yciu partycjonowania dostosowanego do potrzeb")
Optymalizacja mocy i obszaru w NoC przy u¿yciu partycjonowania dostosowanego do potrzeb32,99 €![Samokonfiguruj¿ca si¿ bezprzewodowa sie¿ kratowa wykorzystuj¿ca NS-2]( "Samokonfiguruj¿ca si¿ bezprzewodowa sie¿ kratowa wykorzystuj¿ca NS-2")
Samokonfiguruj¿ca si¿ bezprzewodowa sie¿ kratowa wykorzystuj¿ca NS-223,99 €![Obwody cyfrowe wykorzystuj¿ce techniki redukcji mocy up¿ywu podprogowego]( "Obwody cyfrowe wykorzystuj¿ce techniki redukcji mocy up¿ywu podprogowego")
Obwody cyfrowe wykorzystuj¿ce techniki redukcji mocy up¿ywu podprogowego32,99 €![Redukcja wspó¿czynnika mocy szczytowej do ¿redniej (PAPR) w systemie MIMO-OFDM]( "Redukcja wspó¿czynnika mocy szczytowej do ¿redniej (PAPR) w systemie MIMO-OFDM")
Redukcja wspó¿czynnika mocy szczytowej do ¿redniej (PAPR) w systemie MIMO-OFDM26,99 €![Asynchroniczny dekoder Viterbiego o niskim poborze mocy]( "Asynchroniczny dekoder Viterbiego o niskim poborze mocy")
Asynchroniczny dekoder Viterbiego o niskim poborze mocy36,99 €![Autonomiczna kontrola quadkoptera za pomoc¿ sterowania PD z rozmywym harmonogramem wzmocnienia]( "Autonomiczna kontrola quadkoptera za pomoc¿ sterowania PD z rozmywym harmonogramem wzmocnienia")
Autonomiczna kontrola quadkoptera za pomoc¿ sterowania PD z rozmywym harmonogramem wzmocnienia23,99 €![Zoptymalizowana kontrola pasywnego sprz¿¿enia zwrotnego dla DPS przy u¿yciu ulepszonego WOA]( "Zoptymalizowana kontrola pasywnego sprz¿¿enia zwrotnego dla DPS przy u¿yciu ulepszonego WOA")
Zoptymalizowana kontrola pasywnego sprz¿¿enia zwrotnego dla DPS przy u¿yciu ulepszonego WOA44,99 €
Niniejsza ksi¿¿ka przedstawia dog¿¿bne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagaj¿cych zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletn¿ metodologi¿, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymäo¿ciowe w celu okre¿lenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkre¿laj¿ wiarygodne wskäniki degradacji i otwieraj¿ interesuj¿ce perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych ¿rodowiskach.