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  • Format: PDF

This special edition provides a focused overview of the state of the art in the areas of control, analysis of characteristics, and effect compensation of silicon carbide structure defects, highlighting the scientific foundations and technological solutions that underpin the development of high-quality SiC devices.

  • Geräte: PC
  • ohne Kopierschutz
  • eBook Hilfe
  • Größe: 23.12MB
Produktbeschreibung
This special edition provides a focused overview of the state of the art in the areas of control, analysis of characteristics, and effect compensation of silicon carbide structure defects, highlighting the scientific foundations and technological solutions that underpin the development of high-quality SiC devices.


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