Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie). - Grasserbauer, Manfred, Hans J. Dudek und Maria F. Ebel
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Produktdetails
  • Verlag: Springer
  • ISBN-13: 9783540150503
  • ISBN-10: 3540150501
  • Artikelnr.: 33619073
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