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Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Softcover reprint of the original 1st ed. 2017
2018
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-319-84041-3
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Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
1st ed. 2017
2016
Springer / Springer International Publishing / Springer, Berlin
978-3-319-48898-1
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30. November 2010
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978-3-642-07603-9
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