Buch
Washington, SPIE - The International Society for Optical Engineering
![Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control. Proceedings of a conference held 28-29 September 1993 Monterey, California. [= Critical Reviews of Optical Science and Technology Volume CR52].](https://bilder.buecher.de/produkte/25/25295/25295903m.jpg "Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control. Proceedings of a conference held 28-29 September 1993 Monterey, California. [= Critical Reviews of Optical Science and Technology Volume CR52]."){kind=small}
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Bellingham, SPIE Optical Engineering Press, 1994
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