Andere Kunden interessierten sich auch für
![Diseño y control de convertidores resonantes de alta frecuencia]( "Diseño y control de convertidores resonantes de alta frecuencia")
Diseño y control de convertidores resonantes de alta frecuencia69,99 €![Mejora de las propiedades del cristal líquido con el desarrollo de nanomateriales]( "Mejora de las propiedades del cristal líquido con el desarrollo de nanomateriales")
Mejora de las propiedades del cristal líquido con el desarrollo de nanomateriales24,99 €![El desarrollo del sistema de superposición de imágenes en aplicaciones biomédicas]( "El desarrollo del sistema de superposición de imágenes en aplicaciones biomédicas")
El desarrollo del sistema de superposición de imágenes en aplicaciones biomédicas24,99 €![Desarrollo del diseño de un sistema integrado basado en un microcontrolador PIC]( "Desarrollo del diseño de un sistema integrado basado en un microcontrolador PIC")
Desarrollo del diseño de un sistema integrado basado en un microcontrolador PIC27,99 €![Aplicaciones de sistemas de control en la industria papelera]( "Aplicaciones de sistemas de control en la industria papelera")
Aplicaciones de sistemas de control en la industria papelera24,99 €![Sistema automatizado antirrobo para la distribución de electricidad]( "Sistema automatizado antirrobo para la distribución de electricidad")
Sistema automatizado antirrobo para la distribución de electricidad24,99 €![Sistema inteligente de vigilancia inalámbrica en tiempo real]( "Sistema inteligente de vigilancia inalámbrica en tiempo real")
Sistema inteligente de vigilancia inalámbrica en tiempo real37,99 €
Este libro presenta un estudio experimental en profundidad del comportamiento de los transistores SiC JFET para aplicaciones aeroespaciales exigentes. Se describe una metodología completa que incluye el diseño de un banco de pruebas automatizado mediante LabView, ensayos de robustez para determinar la energía crítica y pruebas de envejecimiento acelerado para monitorizar los cambios en los parámetros eléctricos. Los resultados ponen de relieve indicadores fiables de degradación y abren interesantes perspectivas para el diseño de sistemas electrónicos más resistentes en entornos extremos.