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Destinado a estudantes, engenheiros e profissionais, este livro reúne a teoria da eletrostática e a instrumentação capacitiva para passar do modelo ao dispositivo. Depois de cobrir os conceitos básicos (cálculo vetorial, equações de Laplace/Poisson, condições de fronteira, teorema da unicidade), passa para os meios dieléctricos, a capacitância, a energia e as forças (tensão de Maxwell, efeitos de borda) e as suas implicações na conceção. Uma secção substancial detalha os métodos numéricos FDM/FEM/BEM: escolha de simetrias, malhas, critérios de convergência, validação experimental. No que…mehr

Produktbeschreibung
Destinado a estudantes, engenheiros e profissionais, este livro reúne a teoria da eletrostática e a instrumentação capacitiva para passar do modelo ao dispositivo. Depois de cobrir os conceitos básicos (cálculo vetorial, equações de Laplace/Poisson, condições de fronteira, teorema da unicidade), passa para os meios dieléctricos, a capacitância, a energia e as forças (tensão de Maxwell, efeitos de borda) e as suas implicações na conceção. Uma secção substancial detalha os métodos numéricos FDM/FEM/BEM: escolha de simetrias, malhas, critérios de convergência, validação experimental. No que respeita à medição, o livro abrange medidores LCR, pontes Schering, técnicas de proteção, blindagem e ligação à terra, calibração e incerteza, com protocolos e folhas de cálculo passo a passo. Estudos de casos (cabo coaxial, sensores capacitivos, interfaces tácteis, estruturas MOS/MEMS) mostram como relacionar geometria, permissividade e desempenho. Cada capítulo inclui "receitas" de modelação, listas de verificação laboratoriais e exercícios corrigidos para o ajudar a consolidar as suas competências. Concebido para fins de formação e engenharia, o livro tem como objetivo a utilização segura e eficiente de sistemas capacitivos.
Autorenporträt
Mohammed RASHEED, profesor i naukowiec w dziedzinie nauk stosowanych (Uniwersytet Technologiczny w Bagdadzie; Uniwersytet w Angers), zajmuje si¿ nanotechnologi¿, cienkimi warstwami, optyk¿, materiäami, ceramik¿, polimerami, laserami, modelowaniem i przetwarzaniem obrazu. Autor >220 artyku¿ów, >70 wspó¿prac w >10 krajach; recenzent >200 czasopism.