Estudo da microestrutura dos pós - SABRINA, ROGUAI;ABDELGHANI, LAKEL
29,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 6-10 Tagen
payback
15 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

Idealmente, a difração de raios X por um cristal produz picos de Dirac nos ângulos de difração.ângulos de difração; a representação gráfica da intensidade difractada em função do ângulo 2¿ é designada por diagrama de difração, difractograma ou espetro de difração.A análise dos padrões de difração leva à interpretação das estruturas e propriedades microestruturais das amostras cristalizadas. No entanto, há vários factores que influenciam a posição e a largura do pico e a intensidade difractada, incluindo a dispersão espetral, a refração, o fator de absorção e o fator de Lorentz.

Andere Kunden interessierten sich auch für
Produktbeschreibung
Idealmente, a difração de raios X por um cristal produz picos de Dirac nos ângulos de difração.ângulos de difração; a representação gráfica da intensidade difractada em função do ângulo 2¿ é designada por diagrama de difração, difractograma ou espetro de difração.A análise dos padrões de difração leva à interpretação das estruturas e propriedades microestruturais das amostras cristalizadas. No entanto, há vários factores que influenciam a posição e a largura do pico e a intensidade difractada, incluindo a dispersão espetral, a refração, o fator de absorção e o fator de Lorentz.
Autorenporträt
ROGUAI SABRINAUniversidade Abbes Laghrour, Khenchela, Argélia.