Estudo da microestrutura dos pós - LAKEL, Abdelghani;Roguai, Sabrina
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Idealmente, a difração de raios X por um cristal produz picos de Dirac nos ângulos de difração; a representação gráfica da intensidade difractada em função do ângulo 2¿ é designada por diagrama de difração, difractograma ou espetro de difração.A análise dos padrões de difração conduz à interpretação das estruturas e das propriedades microestruturais das amostras cristalizadas. No entanto, existem vários factores que influenciam a posição e a largura do pico e a intensidade difractada, incluindo a dispersão espetral, a refração, o fator de absorção e o fator de Lorentz.

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Produktbeschreibung
Idealmente, a difração de raios X por um cristal produz picos de Dirac nos ângulos de difração; a representação gráfica da intensidade difractada em função do ângulo 2¿ é designada por diagrama de difração, difractograma ou espetro de difração.A análise dos padrões de difração conduz à interpretação das estruturas e das propriedades microestruturais das amostras cristalizadas. No entanto, existem vários factores que influenciam a posição e a largura do pico e a intensidade difractada, incluindo a dispersão espetral, a refração, o fator de absorção e o fator de Lorentz.
Autorenporträt
lakel Abdelghani Universite Mohamed Khider - Biskra, Algieria.