Fiabilidad del almacenamiento y predicción de la vida útil de los relés electromagnéticos - Wang, Zhaobin
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Como componente crítico de los sistemas eléctricos y electrónicos, los relés electromagnéticos deben cumplir estrictas normas de fiabilidad de almacenamiento. Sin embargo, la investigación actual sobre su fiabilidad de almacenamiento sigue siendo limitada, y los estudios existentes se enfrentan a varios problemas: control incompleto de los parámetros durante las pruebas, causas poco claras de la variación del rendimiento, análisis insuficiente de los mecanismos de fallo por relajación de tensiones, falta de parámetros de caracterización bien definidos, métodos de modelado de datos subóptimos y…mehr

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Produktbeschreibung
Como componente crítico de los sistemas eléctricos y electrónicos, los relés electromagnéticos deben cumplir estrictas normas de fiabilidad de almacenamiento. Sin embargo, la investigación actual sobre su fiabilidad de almacenamiento sigue siendo limitada, y los estudios existentes se enfrentan a varios problemas: control incompleto de los parámetros durante las pruebas, causas poco claras de la variación del rendimiento, análisis insuficiente de los mecanismos de fallo por relajación de tensiones, falta de parámetros de caracterización bien definidos, métodos de modelado de datos subóptimos y enfoques de evaluación y predicción inadecuados. En consecuencia, avanzar en el análisis de la fiabilidad del almacenamiento y en el desarrollo de métodos de predicción de la vida útil de los relés electromagnéticos se ha convertido en un reto urgente.
Autorenporträt
Zhaobin Wang arbeitet seit 2007 an der Jiangsu University of Science and Technology in China und ist derzeit Assistenzprofessor. Er promovierte am Harbin Institute of Technology in elektrischen Maschinen und elektrischen Geräten. Sein Forschungsinteresse gilt der Speicherzuverlässigkeit, der Prüftechnik und der Lebensdauervorhersage von elektrischen Geräten.