Forschungsmethodik & IPR - Ukkund, Dr. Shareefraza J.
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Dieses Buch ist als umfassender Leitfaden für Studenten, Forscher und Fachleute gedacht, die ihr Verständnis von technischer Forschung und Rechten an geistigem Eigentum vertiefen wollen. Ausgehend von meiner Erfahrung in Lehre und Forschung habe ich mich darauf konzentriert, die wichtigsten Konzepte klar und strukturiert darzustellen, angefangen bei den Grundlagen der Forschungsmethodik und der Ethik, über die Techniken der Literaturrecherche bis hin zu den kritischen Bereichen der Patente, Urheberrechte, Warenzeichen und mehr.Mein Ziel ist es, den Lesern praktisches Wissen zu vermitteln, das…mehr

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Produktbeschreibung
Dieses Buch ist als umfassender Leitfaden für Studenten, Forscher und Fachleute gedacht, die ihr Verständnis von technischer Forschung und Rechten an geistigem Eigentum vertiefen wollen. Ausgehend von meiner Erfahrung in Lehre und Forschung habe ich mich darauf konzentriert, die wichtigsten Konzepte klar und strukturiert darzustellen, angefangen bei den Grundlagen der Forschungsmethodik und der Ethik, über die Techniken der Literaturrecherche bis hin zu den kritischen Bereichen der Patente, Urheberrechte, Warenzeichen und mehr.Mein Ziel ist es, den Lesern praktisches Wissen zu vermitteln, das eine Brücke zwischen Theorie und praktischer Anwendung schlägt und ihnen hilft, ihre Forschung verantwortungsvoll durchzuführen und ihre Innovationen wirksam zu schützen. Ganz gleich, ob Sie am Anfang Ihrer Forschungsreise stehen oder Ihr Fachwissen auf dem Gebiet des geistigen Eigentums erweitern möchten, dieses Buch soll eine wertvolle Ressource sein, die Ihr akademisches und berufliches Wachstum unterstützt.
Autorenporträt
Dr Shareefraza J. Ukkund, profesor nadzwyczajny biotechnologii w P.A. College of Engineering w Mangalore, ma ponad 11-letnie do¿wiadczenie w nauczaniu i badaniach w dziedzinie nanotechnologii i biotechnologii. Jest autorem ponad 25 artyku¿ów w czasopismach Elsevier, Springer, Taylor & Francis, ponad 10 podr¿czników i 6 rozdziäów ksi¿¿ek w Academic Press, Elsevier, Springer i CRC Press.