Andere Kunden interessierten sich auch für
![Sistema de monitorização e interpretação de sinais vitais em tempo real]( "Sistema de monitorização e interpretação de sinais vitais em tempo real")
Sistema de monitorização e interpretação de sinais vitais em tempo real35,99 €![Rede de sensores sem fios para monitorização da temperatura]( "Rede de sensores sem fios para monitorização da temperatura")
Rede de sensores sem fios para monitorização da temperatura25,99 €![Sistema de controlo e monitorização de fugas em condutas de gás perigoso baseado em RSSF]( "Sistema de controlo e monitorização de fugas em condutas de gás perigoso baseado em RSSF")
Sistema de controlo e monitorização de fugas em condutas de gás perigoso baseado em RSSF43,99 €![ANTENA E PROPAGAÇÃO DE ONDAS]( "ANTENA E PROPAGAÇÃO DE ONDAS")
ANTENA E PROPAGAÇÃO DE ONDAS31,99 €![Desenvolvimento de um sistema baseado no IOT para monitorização dos parâmetros agrícolas]( "Desenvolvimento de um sistema baseado no IOT para monitorização dos parâmetros agrícolas")
Desenvolvimento de um sistema baseado no IOT para monitorização dos parâmetros agrícolas28,99 €![Sistema de Monitorização de Pacientes Utilizando Sistema de Nuvem e Arduino Atmega]( "Sistema de Monitorização de Pacientes Utilizando Sistema de Nuvem e Arduino Atmega")
Sistema de Monitorização de Pacientes Utilizando Sistema de Nuvem e Arduino Atmega38,99 €![Monitorização Da Velocidade Do Veículo Utilizando Um Bloqueador De Radiofrequências]( "Monitorização Da Velocidade Do Veículo Utilizando Um Bloqueador De Radiofrequências")
Monitorização Da Velocidade Do Veículo Utilizando Um Bloqueador De Radiofrequências31,99 €
As partículas carregadas podem causar efeitos adversos nas naves espaciais e nos componentes electrónicos. Os efeitos de radiação das partículas de alta energia causam carga superficial da nave espacial, degradação ou falha permanente dos componentes electrónicos e dos sub sistemas por efeitos de evento único, danos de deslocamento e efeitos de dose ionizante na nave espacial. Os efeitos de transientes de carga induzidos por iões podem ser divididos nas três categorias básicas: Dose ionizante total (TID), transferência linear de energia (LET) e perturbação por evento único (SEU). O efeito TID é a acumulação de energia ionizante depositada durante um longo período sobre materiais semicondutores. A TID ocorre principalmente devido aos electrões e prótons, o que pode causar falha do dispositivo. A perda ou transferência total de energia para o material por unidade de distância de viagem através do material é chamada LET Os dispositivos electrónicos podem ser perturbados pela passagem de electrões energéticos, prótons ou iões mais pesados que podem alterar o estado de um circuito, produzindo "efeitos de evento único". SEU e perturbações de múltiplos bits (MBU) que alteram o estado lógico dos nós internos do circuito. Pode ser reposto por diferentes operações eléctricas. Estes erros são chamados soft errors, que são recuperáveis.