64,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 6-10 Tagen
payback
32 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

Jako krytyczny element systemów elektrycznych i elektronicznych, przekäniki elektromagnetyczne musz¿ spe¿niä rygorystyczne normy niezawodno¿ci przechowywania. Jednak obecne badania nad ich niezawodno¿ci¿ przechowywania pozostaj¿ ograniczone, a istniej¿ce badania napotykaj¿ kilka problemów: niepe¿ne monitorowanie parametrów podczas testów, niejasne przyczyny zmienno¿ci wydajno¿ci, niewystarczaj¿ca analiza mechanizmów awarii relaksacji napr¿¿e¿, brak dobrze zdefiniowanych parametrów charakteryzuj¿cych, nieoptymalne metody modelowania danych oraz nieodpowiednie podej¿cia do oceny i prognozowania.…mehr

Produktbeschreibung
Jako krytyczny element systemów elektrycznych i elektronicznych, przekäniki elektromagnetyczne musz¿ spe¿niä rygorystyczne normy niezawodno¿ci przechowywania. Jednak obecne badania nad ich niezawodno¿ci¿ przechowywania pozostaj¿ ograniczone, a istniej¿ce badania napotykaj¿ kilka problemów: niepe¿ne monitorowanie parametrów podczas testów, niejasne przyczyny zmienno¿ci wydajno¿ci, niewystarczaj¿ca analiza mechanizmów awarii relaksacji napr¿¿e¿, brak dobrze zdefiniowanych parametrów charakteryzuj¿cych, nieoptymalne metody modelowania danych oraz nieodpowiednie podej¿cia do oceny i prognozowania. W zwi¿zku z tym pilnym wyzwaniem stäa si¿ dalsza analiza niezawodno¿ci pami¿ci masowej i opracowanie metod przewidywania ¿ywotno¿ci przekäników elektromagnetycznych.
Autorenporträt
Zhaobin Wang arbeitet seit 2007 an der Jiangsu University of Science and Technology in China und ist derzeit Assistenzprofessor. Er promovierte am Harbin Institute of Technology in elektrischen Maschinen und elektrischen Geräten. Sein Forschungsinteresse gilt der Speicherzuverlässigkeit, der Prüftechnik und der Lebensdauervorhersage von elektrischen Geräten.