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Les dispositifs électroluminescents organiques (OLED) ont atteint leur maturité industrielle dans le domaine des technologies d'affichage, car ils offrent des avantages notables tels qu'une luminosité élevée, une réponse rapide, un angle de vision large, une flexibilité mécanique et un faible coût de fabrication. Grâce à leur capacité d'électroluminescence (EL) à partir d'états excités triplets et singulets, les OLED phosphorescents (PHOLED) ont le potentiel d'atteindre un rendement quantique interne de 100 %. Les PHOLED peuvent donc offrir un rendement quantique externe compétitif. Cependant, la stabilité opérationnelle des PHOLED est relativement faible. Plusieurs mécanismes ont été proposés pour traiter les phénomènes chimiques et physiques associés à la dégradation intrinsèque des PHOLED, mais les raisons de l'augmentation de la tension et de la perte de luminance qui accompagnent le fonctionnement à long terme des PHOLED ne sont pas encore bien comprises. En étudiant l'interface indium-étain-oxyde (ITO)/organique dans des PHOLED simplifiées, il a été découvert que cette interface est essentielle à la performance des PHOLED. L'étude montre que cette interface est essentielle à la stabilité globale des PHOLED et est considérée comme l'un des facteurs limitants de la stabilité opérationnelle à long terme des PHOLED simplifiées.