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Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications - S. Wong, Terence K.
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Produktdetails
  • Verlag: Elsevier Science
  • Seitenzahl: 144
  • Erscheinungstermin: 1. Februar 2018
  • Englisch
  • Abmessung: 279mm x 216mm x 9mm
  • Gewicht: 481g
  • ISBN-13: 9781608055548
  • ISBN-10: 160805554X
  • Artikelnr.: 57572873
  • Herstellerkennzeichnung
  • Libri GmbH
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