Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel

Moderne Röntgenbeugung (eBook, PDF)

Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker

• Format: PDF

Produktdetails

• Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden
• Seitenzahl: 636
• Erscheinungstermin: 9. April 2019
• Deutsch
• ISBN-13: 9783834882325
• Artikelnr.: 56163427

Autorenporträt

Prof. Dr. Lothar Spieß

1977 bis 1982 Studium "Physik und Technik Elektronische Bauelemente" an der TH Ilmenau, 1981 bis 1984 Forschungsstudium. Seit 1984 wissenschaftlicher Mitarbeiter und Laborleiter an der TU Ilmenau, Institut Werkstofftechnik bzw. Institut für Mikro- und Nanotechnologie, 1985 Promotion, 1990 Habilitation "Komplexe Festkörperanalyse", 1995 bis 2007 Privatdozent, seit 2007 außerplanmäßiger Professor, Qualitätsmanagementbeauftragter für Prüfzentrum Schicht- und Materialeigenschaften MFPA Weimar, Arbeitskreisleiter Thüringen und stellvertretender Fachausschutzvorsitzender Materialcharakterisierung der DGZfP .

Dr. Gerd Teichert

1976 bis 1981 Studium der Kristallographie an der Karl-Marx-Universität Leipzig. 1981 bis 1985 wissenschaftlicher Mitarbeiter im Bereich Chemie/Werkstoffe der TH Ilmenau. 1985 bis 1990 Gruppenleiter Werkstoffe im Thermometerwerk Geraberg. 1991 bis 1992 Leiter der Abteilung Hartstoffbeschichtung/Vakuumhärterei der Firma Wälztechnik Saacke-Zorn GmbH & Co. KG. Seit 1994 Leiter des Prüfzentrums Schicht- und Materialeigenschaften der Materialforschungs- und -prüfanstalt Weimar an der TU Ilmenau, Institut für Werkstofftechnik. Leiter des Arbeitskreises Werkstofftechnik, Thüringer Bezirksverein e. V. des VDI.

Prof. Dr. Robert Schwarzer

1965 bis 1970 Studium der Physik, Universität Tübingen. 1974 Promotion Dr. rer. nat., 1970 bis 1979 wiss. Angestellter, Institut für Physik Universität Tübingen. 1975 bis 1976 Gastwissenschaftler, Staatsuniversität Campinas, Brasilien. 1979 bis 1981 Angestellter im Behördenbereich. 1981 Akademischer Rat, TU Clausthal. 1989 Habilitation, 1993 apl. Professor. 2002-2009 Akad. Direktor. Seit 2009 im Ruhestand. 2002 Alexander-von-Humboldt-Forschungspreis der Poln. Akademie der Wissenschaften.

Dr. Herfried Behnken

1977 bis 1987 Studium an der RWTH-Aachen, Physik, Wirtschaftswissenschaften. 1987 bis 1999 wiss. Angestellter: IWK, RWTH-Aachen; IWE, Forschungszentrum Jülich; IWT, Bremen. 1992 Promotion Dr. ing., RWTH-Aachen. 2000 bis 2002 Forschungsstipendium der DFG. 2002 Habilitation, bis 2018 Privatdozent an der RWTH-Aachen. Seit 2002 Access e.V. Aachen.

Prof. Dr. Christoph Genzel

1979 bis 1984 Studium der Kristallographie an der Humboldt-Universität Berlin. 1986 Promotion Dr. rer. nat., 1986 bis 1990 wiss. Mitarbeiter am Bereich Kristallographie der HU Berlin. Seit 1991 wiss. Mitarbeiter am Helmholtz- Zentrum Berlin für Materialien und Energie (vormals Hahn-Meitner-Institut). 2000 Habilitation, 2001 bis 2007 Privatdozent an der TU Berlin, seit 2007 außerplanmäßiger Professor, seit 2012 Abteilungsleiter der Abteilung Mikrostruktur- und Eigenspannungsanalyse am HZB.

Inhaltsangabe

Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung - Beugung von Röntgenstrahlung - Hardware für die Röntgenbeugung - Methoden der Röntgenbeugung - Qualitative und quantitative Phasenanalyse - Zellparameterbestimmung - Röntgenprofilanalyse - Kristallstrukturanalyse - Röntgenografische Spannungsanalyse - Röntgenografische Texturanalyse - Kristallorientierungsbestimmung - Besonderheiten bei dünnen Schichten - Spezielle Verfahren Einleitung.- Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung.- Beugung von Röntgenstrahlung.- Hardware für die Röntgenbeugung.- Methoden der Röntgenbeugung.- Phasenanalyse.- Zellparameterbestimmung.- Mathematische Beschreibung von Röntgenbeugungsdiagrammen.- Kristallstrukturanalyse.- Röntgenographische Spannungsanalyse.- Röntgenographische Texturanalyse.- Bestimmung der Kristallorientierung.- Untersuchungen an dünnen Schichten.- Spezielle Verfahren.- Komplexe Anwendung.- Zusammenfassung.- Lösung der Aufgaben.