Der Inhalt
Optische Grundlagen für Grenzflächen und Volumina von Festkörpern
UV/Vis/NIR-Spektroskopie an opaken und transparenten Ein- und Zwei-Schichten-Systemen
Optische, berührungsfreie Bestimmung zahlreicher materialspezifischer Größen (z.B. Schichtwiderstand)
Opto-elektrische Bestimmung typischer Halbleitergrößen (Dotierstoffkonzentrationen, Beweglichkeiten, Stoßzeiten, ...)
Strom-Spannungs-Messungen an Solarzellen
Bestimmung von Wirkungsgrad, Quanteneffizienz, ...
Die Zielgruppen
Ingenieure in der Entwicklung, beratende Ingenieure, Wissenschaftler in Industrie und Technik
Wissenschaftler an Forschungseinrichtungen, PostDocs, Doktoranden
Studierende der Fächer Physik, Elektrotechnik, Wirtschaftsingenieurwesen, regenerative Energietechnik
Der Autor
Dr. Andreas Stadler forscht an der Technischen Universität München.
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