Dieser Download kann aus rechtlichen Gründen nur mit Rechnungsadresse in A, B, BG, CY, CZ, D, DK, EW, E, FIN, F, GR, HR, H, IRL, I, LT, L, LR, M, NL, PL, P, R, S, SLO, SK ausgeliefert werden.
Herstellerkennzeichnung
Die Herstellerinformationen sind derzeit nicht verfügbar.
Inhaltsangabe
1. Einleitung.- 1.1. Prinzipielle Wirkungsweise und Betriebsarten eines Raster-Elektronen-mikroskopes (SEM).- 1.2. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit dem Lichtmikroskop und Transmissions-Elektronenmikroskop.- 1.3. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit anderen Elektronen-Strahlgeräten.- Literatur zu 1.- Monographien, Tagungsbände und Bibliographien.- 2. Wechselwirkung Elektron-Materie.- 2.1. Einleitung.- 2.2. Elektronenstreuung am Einzelatom.- 2.3. Streuung in einer durchstrahlbaren Schicht.- 2.4. Elektronendiffusion in kompaktem Material.- 2.5. Rückstreuung und Sekundärelektronen-Emission.- 2.6. Ausbreitung der Elektronen in Kristallen.- Literatur zu 2.- 3. Elektronenoptik, Aufbau und Funktion des Raster-Elektronenmikroskopes.- 3.1. Elektronenoptische Grundlagen.- 3.2. Abrasterung und Fokussierung.- 3.3. Objektveränderungen durch Elektronenbeschuß.- 3.4. Objektkammer und Detektoren.- 3.5. Elektronik und Bildaufzeichnung.- 3.6. Spezielle Techniken der Raster-Elektronenmikroskopie.- Literatur zu 3.- 4. Abbildung mit Sekundär-, Rückstreuelektronen und Probenströmen.- 4.1. Oberflächentopographie.- 4.2. Materialkontrast.- 4.3. Auflösungsgrenze und Informationstiefe.- 4.4. Channelling-Diagramme und Kristallorientierungskontrast.- 4.5. Abbildung und Messung elektrischer Potentiale.- 4.6. Abbildung und Messung magnetischer Objektfelder.- 4.7. Abbildung mit internen Probenströmen und elektromotorischen Kräften.- Literatur zu 4.- 5. Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie.- 5.1. Spezielle Eigenschaften der Rastertransmission.- 5.2. Realisierung des Transmissionsbetriebes.- 5.3. Anwendung der Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie.- Literatur zu 5.- 6. Elementanalyse und Abbildung mit emittierten Quanten und Augerelektronen.-6.1. Grundlagen der Röntgenemission.- 6.2. Wellenlängen- und energiedispersive Röntgenanalyse.- 6.3. Grundlagen der Röntgenmikroanalyse.- 6.4. Ausnutzung der Beugung und Absorption der Röntgenstrahlung.- 6.5. Andere Verfahren der Elementanalyse.- 6.6. Kathodolumineszenz.- Literatur zu 6.- 7. Auswertemethoden rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen.- 7.1. Ermittlung der dreidimensionalen Struktur.- 7.2. Stereometrie.- 7.3. Optische Transformationen.- Literatur zu 7.- 8. Präparation.- 8.1. Einleitung.- 8.2. Präparatmontage und Oberflächenvorbereitung.- 8.3. Stabilisierung der Objekte.- 8.4. Kleine Teilchen und durchstrahlbare Präparate.- 8.5. Abdruckverfahren.- 8.6. Vermeidung von Aufladungen.- 8.7. Erweiterung der Bildinformation.- Literatur zu 8.
1. Einleitung.- 1.1. Prinzipielle Wirkungsweise und Betriebsarten eines Raster-Elektronen-mikroskopes (SEM).- 1.2. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit dem Lichtmikroskop und Transmissions-Elektronenmikroskop.- 1.3. Vergleich des Raster-Elektronenmikroskopes mit anderen Elektronen-Strahlgeräten.- Literatur zu 1.- Monographien, Tagungsbände und Bibliographien.- 2. Wechselwirkung Elektron-Materie.- 2.1. Einleitung.- 2.2. Elektronenstreuung am Einzelatom.- 2.3. Streuung in einer durchstrahlbaren Schicht.- 2.4. Elektronendiffusion in kompaktem Material.- 2.5. Rückstreuung und Sekundärelektronen-Emission.- 2.6. Ausbreitung der Elektronen in Kristallen.- Literatur zu 2.- 3. Elektronenoptik, Aufbau und Funktion des Raster-Elektronenmikroskopes.- 3.1. Elektronenoptische Grundlagen.- 3.2. Abrasterung und Fokussierung.- 3.3. Objektveränderungen durch Elektronenbeschuß.- 3.4. Objektkammer und Detektoren.- 3.5. Elektronik und Bildaufzeichnung.- 3.6. Spezielle Techniken der Raster-Elektronenmikroskopie.- Literatur zu 3.- 4. Abbildung mit Sekundär-, Rückstreuelektronen und Probenströmen.- 4.1. Oberflächentopographie.- 4.2. Materialkontrast.- 4.3. Auflösungsgrenze und Informationstiefe.- 4.4. Channelling-Diagramme und Kristallorientierungskontrast.- 4.5. Abbildung und Messung elektrischer Potentiale.- 4.6. Abbildung und Messung magnetischer Objektfelder.- 4.7. Abbildung mit internen Probenströmen und elektromotorischen Kräften.- Literatur zu 4.- 5. Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie.- 5.1. Spezielle Eigenschaften der Rastertransmission.- 5.2. Realisierung des Transmissionsbetriebes.- 5.3. Anwendung der Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie.- Literatur zu 5.- 6. Elementanalyse und Abbildung mit emittierten Quanten und Augerelektronen.-6.1. Grundlagen der Röntgenemission.- 6.2. Wellenlängen- und energiedispersive Röntgenanalyse.- 6.3. Grundlagen der Röntgenmikroanalyse.- 6.4. Ausnutzung der Beugung und Absorption der Röntgenstrahlung.- 6.5. Andere Verfahren der Elementanalyse.- 6.6. Kathodolumineszenz.- Literatur zu 6.- 7. Auswertemethoden rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen.- 7.1. Ermittlung der dreidimensionalen Struktur.- 7.2. Stereometrie.- 7.3. Optische Transformationen.- Literatur zu 7.- 8. Präparation.- 8.1. Einleitung.- 8.2. Präparatmontage und Oberflächenvorbereitung.- 8.3. Stabilisierung der Objekte.- 8.4. Kleine Teilchen und durchstrahlbare Präparate.- 8.5. Abdruckverfahren.- 8.6. Vermeidung von Aufladungen.- 8.7. Erweiterung der Bildinformation.- Literatur zu 8.
Es gelten unsere Allgemeinen Geschäftsbedingungen: www.buecher.de/agb
Impressum
www.buecher.de ist ein Internetauftritt der buecher.de internetstores GmbH
Geschäftsführung: Monica Sawhney | Roland Kölbl | Günter Hilger
Sitz der Gesellschaft: Batheyer Straße 115 - 117, 58099 Hagen
Postanschrift: Bürgermeister-Wegele-Str. 12, 86167 Augsburg
Amtsgericht Hagen HRB 13257
Steuernummer: 321/5800/1497
USt-IdNr: DE450055826
