Suchergebnisse für ""Cher Ming Tan""

Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging
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Cher Ming Tan
Preetpal Singh
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging
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Broschiertes Buch
2022
Elsevier Science & Technology / Woodhead Publishing
C2019-0-04104-0
Auch erhältlich als
eBook, ePUB127,95 €
Graphene and VLSI Interconnects
147,99 €
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Cher-Ming Tan
Udit Narula
Vivek Sangwan
Graphene and VLSI Interconnects
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Gebundenes Buch
25. November 2021
Jenny Stanford Publishing
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eBook, PDF114,95 €
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
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Cher Ming Tan
Wei Li
Zhenghao Gan
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
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Broschiertes Buch
2011
21. April 2013
Springer / Springer London / Springer, Berlin
978-1-4471-2641-6
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eBook, PDF72,95 €
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
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Cher Ming Tan
Feifei He
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
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Broschiertes Buch
2013
4. Mai 2013
Springer / Springer Nature Singapore / Springer, Berlin
86164922,978-981-4451-20-8
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
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Cher Ming Tan
Wei Li
Zhenghao Gan
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
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Gebundenes Buch
2011
7. März 2011
Springer / Springer London / Springer, Berlin
12234875,978-0-85729-309-1
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging (eBook, ePUB)
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Cher Ming Tan
Preetpal Singh
Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging (eBook, ePUB)
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eBook, ePUB
24. September 2022
Elsevier Science & Techn.
Graphene and VLSI Interconnects (eBook, ePUB)
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Cher-Ming Tan
Udit Narula
Vivek Sangwan
Graphene and VLSI Interconnects (eBook, ePUB)
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24. November 2021
Taylor & Francis eBooks
Graphene and VLSI Interconnects (eBook, PDF)
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Cher-Ming Tan
Udit Narula
Vivek Sangwan
Graphene and VLSI Interconnects (eBook, PDF)
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24. November 2021
Taylor & Francis eBooks
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level (eBook, PDF)
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Cher Ming Tan
Feifei He
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level (eBook, PDF)
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16. März 2013
Springer Nature Singapore
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (eBook, PDF)
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Cher Ming Tan
Wei Li
Zhenghao Gan
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Yuejin Hou
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections (eBook, PDF)
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eBook, PDF
28. März 2011
Springer London


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